岩石薄片鉴定来源:武汉中地大环境地质研究院    发布日期:2018-02-06    浏览量:

普通薄片

用于岩石矿物鉴定,包括矿物成分、含量、结构构造、岩性定名。

用透射偏光显微镜进行观察

普通光片

用于金属矿物鉴定,包括矿物成分、含量、结构构造、矿石工艺。

用反射偏光显微镜进行观察

砂薄片

用于松散砂样、选矿精矿-尾矿等,鉴定透明矿物成分,含量等。

用透射偏光显微镜进行观察

砂光片

用于松散砂样、选矿精矿-尾矿等,鉴定金属矿物成分,含量,统计解离度等。

用反射偏光显微镜进行观察

光薄片

用于观察金属矿物和透明矿物的成分、含量等,以及嵌布特征及相互关系。

用透反两用光源

探针片

观察金属矿物和透明矿物的成分,用于探针测试分析。

用透射或反射光

普通包体片

观察透明矿物中气液包裹体的类型,进行包裹体盐度、温度的测定。

用透射偏光显微镜进行观察

红外包体片

观察不透明矿物中包裹体的类型,进行

用红外显微镜进行观察


联系方式Contact

咨询热线:027-59223306

手机:15871815200

联系人:申经理

邮箱:zddhjdz@163.com

地址:武汉市东湖高新区佛祖岭一路19号中国地质大学科技园2栋802室